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共同利用機器詳細(高輝度試料水平多目的X線回折装置)

 

 23.  高輝度試料水平多目的X線回折装置
管理研究室 伊藤研究室
管理者 伊藤 満
管理補助者  安井伸太郎
設置場所  R3棟011号室
装置概要  リガク製薄膜X線回折装置(Smart Lab)
本装置は薄膜の結晶構造を決定するための X 線回折装置である。面外、および面内の構造情報を収集することができ、また、1100℃までの温度範囲で構造の温度変化を調べることができるまた、2次元検出器を付属し、迅速な構造情報を取得することができる。
測定条件及び
利用可能範囲 
最大定格出力:9 KW
定格管電圧:20~45kV
定格管電流 :10~100mA
焦点サイズ:0.4x0.8mm2
検出器:シンチレーションカウンターおよび2次元検出器
光学系:平行ビーム用多層膜ミラー、入射可変スリット、In plane 用ソーラ ースリット、Ge220 2結晶モノクロ、Ge220アナライザー結晶
温度範囲:室温~1100℃
申込方法  伊藤研究室 伊藤(itoh.m.aa@m.titech.ac.jp)まで事前に連絡.申し込み受理後、メールでアクセス権を送付(google calenderで管理)。詳細はこちらをご覧ください。
利用日時  基本的に24時間。ただし、利用時に、部屋の外に、使用者の連絡先を明示すること。
試料条件  通常の薄膜試料。
利用料金  1年間に要した消耗品、定期点検費、アノード、フィラメント、ローター、修理代を集計して、使用時間により徴収
注意事項  基本的に原理・使用方法に習熟している方に限ります。ただし、100万円を超える修理代に関しては、別途相談。装置の使用状況を全て、ログノートに記入すること。

 

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