東京工業大学 フロンティア材料研究所
神谷・片瀬 研究室

  • 細野神谷Gr.へ
  • English

Evaluation

原子間力顕微鏡
写真
蛍光光度分光計
写真
ACホール効果測定装置
写真
DCホール効果測定装置
写真
物理特性測定装置(PPMS)
写真
マニュアルプローバー
写真
高温-低温プローバー
写真
低温キャリア輸送 計測装置1号機
写真
低温キャリア輸送 計測装置2号機
写真
粉末X線回折装置(RINT)
写真
高分解能X線回折装置1号機
写真
高分解能X線回折装置2号機
写真
可視-紫外-近赤外分光光度計
写真
磁気特性測定装置
写真
蛍光X線分析装置
写真
DLTS評価システム
写真
エリプソメーター
写真
TG-DTA分析装置
写真
触針段差計
写真
グローブボックス+プローバー
写真
光学膜厚測定システム
写真
簡易走査型電子顕微鏡
写真