第97回フロンティア材料研究所講演会（長尾 圭悟／山野 昭人）
| 開催日時 | 2019年02月27日 14:40-17:30 |
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| 開催場所 | 元素戦略研究棟 (S8棟) 1階 レクチャホール |
| 主催 | 【主催】フロンティア材料研究所 【共催】物質・情報卓越教育院 【協賛】日本学術振興会 透明酸化物光・電子材料第166委員会 |
| 連絡先 | 神谷 利夫 （E-mail: tkamiya@msl.titech.ac.jp） |
| 備考 | 参加費：無料 参加申込：申込フォームよりお申込みください。 ご登録いただきましたら、講演資料配布の案内を差し上げる予定です。 |
プログラム等
X線回折は、結晶材料の同定、構造解析法として、材料研究者には 不可欠なものとなっています。一方、その技術の進展は目覚ましく、 本来回折法が不得手であったアモルファス材料についても、 極薄膜の密度の測定により、アモルファス酸化物半導体デバイスの 品質・安定性を評価するための重要な情報を与えてくれます。 エピタキシャル膜や単結晶の構造解析についても、装置および解析手法の 進展は目覚ましいものがあります。
本講演では、特に、初学者、学生向けに、株式会社リガクさんから、 X線回折技術の基礎から応用、最近の装置などについて説明していただきます。
演題：「チュートリアル：Ｘ線回折の基礎から応用まで」
講師： 長尾 圭悟／山野昭人
（株式会社リガク 応用技術センター）
プログラム：
14:40～15:30 粉末X線回折の基礎から実践的ノウハウ・最新の応用例紹介
15:40～16:30 薄膜X線回折の基礎と最新の応用例紹介
16:40～17:30 単結晶X線構造解析の基礎と最新応用例
